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邦纳banner 测量传感器 EA5R900NIXMODQSM30 & SMI30系列标准的,高能的本质安全型对照式传感器,圆柱型,带M30螺纹T30系列T型外壳,镜头侧带M30的螺纹含EZ-BEAM style光学和电路,可靠检测无需调节Q40 系列EZ-BEAM 型 带M30螺纹安装基座的直角型传感器
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SM30 & SMI30系列
标准的,高能的本质安全型对照式传感器,圆柱型,带M30螺纹
T30系列
T型外壳,镜头侧带M30的螺纹含EZ-BEAM style光学和电路,可靠检测无需调节
Q40 系列
EZ-BEAM 型 带M30螺纹安装基座的直角型传感器
PicoDot PD 系列
轻巧的聚焦式和反射板式雷射光传感器,加强型外壳适用于**到位检测,检查和记数
QM42 & QMT42 系列
外壳采用印模压铸方式加强的传感器,多种检测模式可选择
SM30 & SMI30系列
标准的,高能的本质安全型对照式传感器,圆柱型,带M30螺纹
T30系列
T型外壳,镜头侧带M30的螺纹含EZ-BEAM style光学和电路,可靠检测无需调节
Q40 系列
EZ-BEAM 型 带M30螺纹安装基座的直角型传感器
PicoDot PD 系列
轻巧的聚焦式和反射板式雷射光传感器,加强型外壳适用于**到位检测,检查和记数
QM42 & QMT42 系列
外壳采用印模压铸方式加强的传感器,多种检测模式可选择
SM30 & SMI30系列
标准的,高能的本质安全型对照式传感器,圆柱型,带M30螺纹
T30系列
T型外壳,镜头侧带M30的螺纹含EZ-BEAM style光学和电路,可靠检测无需调节
Q40 系列
EZ-BEAM 型 带M30螺纹安装基座的直角型传感器
PicoDot PD 系列
轻巧的聚焦式和反射板式雷射光传感器,加强型外壳适用于**到位检测,检查和记数
QM42 & QMT42 系列
外壳采用印模压铸方式加强的传感器,多种检测模式可选择
SM30 & SMI30系列
标准的,高能的本质安全型对照式传感器,圆柱型,带M30螺纹
T30系列
T型外壳,镜头侧带M30的螺纹含EZ-BEAM style光学和电路,可靠检测无需调节
Q40 系列
EZ-BEAM 型 带M30螺纹安装基座的直角型传感器
PicoDot PD 系列
轻巧的聚焦式和反射板式雷射光传感器,加强型外壳适用于**到位检测,检查和记数
QM42 & QMT42 系列
外壳采用印模压铸方式加强的传感器,多种检测模式可选择